微电子器件试验方法和步骤:美国军用标准MIL-STD-883

微电子器件试验方法和步骤:美国军用标准MIL-STD-883

年份: 1973

作者: 中国人民解放军京字129部队,1097厂,中国人民解放军京字116部队合译

页数: 266

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目录

1.1.目的
1.范围
2.参考文件
3.缩写、符号和定义
4.总的要求
4.1.编号系统
4.3.试验条件
4.2.参考方法
4.4.取向
4.5.注意事项
索 引
实验方法的编号
附 录
试验方法