美国军用标准  MIL-STD-765B  计数抽样检查程序及表格

美国军用标准 MIL-STD-765B 计数抽样检查程序及表格

年份: 1973

作者: 电子工业部标准化研究所编

出版: 电子工业部标准化研究所

页数: 70

格式:PDF


费用:9 元

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目录

内容
-- 1范围
-- 2缺陷和不合格品分类
-- 3不合格品率和每百单元缺陷数
-- 4可接收质量水平(AQL)
-- 5产品的提交
-- 6合格和不合格
-- 7样品的抽取
-- 8正常、加严和放宽检查
-- 9抽样方案
-- 10批的合格与不合格的决定
-- 11其它

-- 表Ⅰ样品大小字码
-- 表Ⅱ—A一次正常检查抽样方案(主表)
-- 表Ⅱ—B一次加严检查抽样方案(主表)
-- 表Ⅱ—C一次放宽检查抽样方案(主表)
-- 表Ⅲ—A二次正常检查抽样方案(主表)
-- 表Ⅲ—B二次加严检查抽样方案(主表)
-- 表Ⅲ—C二次放宽检查抽样方案(主表)
-- 表Ⅳ—A多次正常检查抽样方案(主表)
-- 表Ⅳ—B多次加严检查抽样方案(主表)
-- 表Ⅳ—C多次放宽检查抽样方案(主表)
-- 表Ⅴ—A正常检查平均出厂质量上限系数(一次抽样)
-- 表Ⅴ—B加严检查平均出厂质量上限系数(一次抽样)
-- 表Ⅵ— A极限质量(不合格品率),Pa= 10%(正常检查,一次抽样)
-- 表Ⅵ— B极限质量(每百单元缺陷数),Pa =10%(正常检查、一次抽样)
-- 表—A极限质量(不合格品率),Pa= 5%(正常检查、一次抽样)
-- 表Ⅶ一B极限质量(每百单元缺陷数),Pa= 5 %(正常检查、一次抽样)
-- 表Ⅷ 放宽检查的界限数
-- 表Ⅸ 二次和多次抽样平均样品大小曲线
-- 各样品字码的抽样方案、抽查特性曲线及数值表:
---- 表X—A样品字码A
---- 表X—B样品字码B
---- 表X—C样品字码C
---- 表X—D样品字码D
---- 表X—E样品字码E
---- 表X—F样品字码F
---- 表X—G样品字码G
---- 表X—H样品字码H
---- 表X—J样品字码J
---- 表X—K样品字码K
---- 表X—L样品字码L
---- 表X—M样品字码M
---- 表X—N样品字码N
---- 表X—P样品字码P
---- 表X—Q样品字码Q
---- 表X—R样品字码R
---- 表X—S样品字码S
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