美国军用标准 MIL-STD-765B 计数抽样检查程序及表格
年份: 1973
作者: 电子工业部标准化研究所编
出版: 电子工业部标准化研究所
页数: 70
格式:PDF
费用:9 元
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目录
内容
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1范围
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2缺陷和不合格品分类
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3不合格品率和每百单元缺陷数
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4可接收质量水平(AQL)
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5产品的提交
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6合格和不合格
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7样品的抽取
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8正常、加严和放宽检查
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9抽样方案
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10批的合格与不合格的决定
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11其它
表
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表Ⅰ样品大小字码
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表Ⅱ—A一次正常检查抽样方案(主表)
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表Ⅱ—B一次加严检查抽样方案(主表)
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表Ⅱ—C一次放宽检查抽样方案(主表)
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表Ⅲ—A二次正常检查抽样方案(主表)
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表Ⅲ—B二次加严检查抽样方案(主表)
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表Ⅲ—C二次放宽检查抽样方案(主表)
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表Ⅳ—A多次正常检查抽样方案(主表)
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表Ⅳ—B多次加严检查抽样方案(主表)
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表Ⅳ—C多次放宽检查抽样方案(主表)
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表Ⅴ—A正常检查平均出厂质量上限系数(一次抽样)
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表Ⅴ—B加严检查平均出厂质量上限系数(一次抽样)
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表Ⅵ— A极限质量(不合格品率),Pa= 10%(正常检查,一次抽样)
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表Ⅵ— B极限质量(每百单元缺陷数),Pa =10%(正常检查、一次抽样)
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表—A极限质量(不合格品率),Pa= 5%(正常检查、一次抽样)
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表Ⅶ一B极限质量(每百单元缺陷数),Pa= 5 %(正常检查、一次抽样)
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表Ⅷ 放宽检查的界限数
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表Ⅸ 二次和多次抽样平均样品大小曲线
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各样品字码的抽样方案、抽查特性曲线及数值表:
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表X—A样品字码A
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表X—B样品字码B
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表X—C样品字码C
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表X—D样品字码D
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表X—E样品字码E
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表X—F样品字码F
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表X—G样品字码G
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表X—H样品字码H
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表X—J样品字码J
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表X—K样品字码K
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表X—L样品字码L
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表X—M样品字码M
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表X—N样品字码N
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表X—P样品字码P
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表X—Q样品字码Q
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表X—R样品字码R
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表X—S样品字码S
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