美国军用标准 MIL-STD-765B 计数抽样检查程序及表格
- 年份
- 1973
- 作者
- 电子工业部标准化研究所编
- 出版
- 电子工业部标准化研究所
- 页数
- 70
- 格式
- PDF
- 费用
- 9 元
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目录 共 50 项
内容
- 1范围
- 2缺陷和不合格品分类
- 3不合格品率和每百单元缺陷数
- 4可接收质量水平(AQL)
- 5产品的提交
- 6合格和不合格
- 7样品的抽取
- 8正常、加严和放宽检查
- 9抽样方案
- 10批的合格与不合格的决定
- 11其它
表
- 表Ⅰ样品大小字码
- 表Ⅱ—A一次正常检查抽样方案(主表)
- 表Ⅱ—B一次加严检查抽样方案(主表)
- 表Ⅱ—C一次放宽检查抽样方案(主表)
- 表Ⅲ—A二次正常检查抽样方案(主表)
- 表Ⅲ—B二次加严检查抽样方案(主表)
- 表Ⅲ—C二次放宽检查抽样方案(主表)
- 表Ⅳ—A多次正常检查抽样方案(主表)
- 表Ⅳ—B多次加严检查抽样方案(主表)
- 表Ⅳ—C多次放宽检查抽样方案(主表)
- 表Ⅴ—A正常检查平均出厂质量上限系数(一次抽样)
- 表Ⅴ—B加严检查平均出厂质量上限系数(一次抽样)
- 表Ⅵ— A极限质量(不合格品率),Pa= 10%(正常检查,一次抽样)
- 表Ⅵ— B极限质量(每百单元缺陷数),Pa =10%(正常检查、一次抽样)
- 表—A极限质量(不合格品率),Pa= 5%(正常检查、一次抽样)
- 表Ⅶ一B极限质量(每百单元缺陷数),Pa= 5 %(正常检查、一次抽样)
- 表Ⅷ 放宽检查的界限数
- 表Ⅸ 二次和多次抽样平均样品大小曲线
- 各样品字码的抽样方案、抽查特性曲线及数值表:
- 表X—A样品字码A
- 表X—B样品字码B
- 表X—C样品字码C
- 表X—D样品字码D
- 表X—E样品字码E
- 表X—F样品字码F
- 表X—G样品字码G
- 表X—H样品字码H
- 表X—J样品字码J
- 表X—K样品字码K
- 表X—L样品字码L
- 表X—M样品字码M
- 表X—N样品字码N
- 表X—P样品字码P
- 表X—Q样品字码Q
- 表X—R样品字码R
- 表X—S样品字码S