美国军用标准  MIL-STD-765B  计数抽样检查程序及表格

美国军用标准 MIL-STD-765B 计数抽样检查程序及表格

年份
1973
作者
电子工业部标准化研究所编
出版
电子工业部标准化研究所
页数
70
格式
PDF
费用
9 元
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目录 共 50 项

内容
  • 1范围
  • 2缺陷和不合格品分类
  • 3不合格品率和每百单元缺陷数
  • 4可接收质量水平(AQL)
  • 5产品的提交
  • 6合格和不合格
  • 7样品的抽取
  • 8正常、加严和放宽检查
  • 9抽样方案
  • 10批的合格与不合格的决定
  • 11其它
表
  • 表Ⅰ样品大小字码
  • 表Ⅱ—A一次正常检查抽样方案(主表)
  • 表Ⅱ—B一次加严检查抽样方案(主表)
  • 表Ⅱ—C一次放宽检查抽样方案(主表)
  • 表Ⅲ—A二次正常检查抽样方案(主表)
  • 表Ⅲ—B二次加严检查抽样方案(主表)
  • 表Ⅲ—C二次放宽检查抽样方案(主表)
  • 表Ⅳ—A多次正常检查抽样方案(主表)
  • 表Ⅳ—B多次加严检查抽样方案(主表)
  • 表Ⅳ—C多次放宽检查抽样方案(主表)
  • 表Ⅴ—A正常检查平均出厂质量上限系数(一次抽样)
  • 表Ⅴ—B加严检查平均出厂质量上限系数(一次抽样)
  • 表Ⅵ— A极限质量(不合格品率),Pa= 10%(正常检查,一次抽样)
  • 表Ⅵ— B极限质量(每百单元缺陷数),Pa =10%(正常检查、一次抽样)
  • 表—A极限质量(不合格品率),Pa= 5%(正常检查、一次抽样)
  • 表Ⅶ一B极限质量(每百单元缺陷数),Pa= 5 %(正常检查、一次抽样)
  • 表Ⅷ 放宽检查的界限数
  • 表Ⅸ 二次和多次抽样平均样品大小曲线
  • 各样品字码的抽样方案、抽查特性曲线及数值表:
    • 表X—A样品字码A
    • 表X—B样品字码B
    • 表X—C样品字码C
    • 表X—D样品字码D
    • 表X—E样品字码E
    • 表X—F样品字码F
    • 表X—G样品字码G
    • 表X—H样品字码H
    • 表X—J样品字码J
    • 表X—K样品字码K
    • 表X—L样品字码L
    • 表X—M样品字码M
    • 表X—N样品字码N
    • 表X—P样品字码P
    • 表X—Q样品字码Q
    • 表X—R样品字码R
    • 表X—S样品字码S
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